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來源: 發(fā)布時(shí)間:2011-11-15 11:13 點(diǎn)擊量:3020
由日本律師聯(lián)合會(huì)、日本知識(shí)產(chǎn)權(quán)協(xié)會(huì)、美國專利商標(biāo)局、聯(lián)邦巡回法院律師協(xié)會(huì)(FCBA)等共同主辦的“日美知識(shí)產(chǎn)權(quán)司法討論會(huì)”于2011年10月26日至27日在日本東京召開。研討會(huì)圍繞著“日美兩國法官討論及疑問解答”、“特許廳的觀點(diǎn)”、“美國聯(lián)邦巡回上訴法院(CAFC)和日本知識(shí)產(chǎn)權(quán)高等法院在各國的貢獻(xiàn)及未來展望”、“模擬法庭”四個(gè)主題進(jìn)行。
包括CAFC的首席法官Randall R. Radar在內(nèi)的六名CAFC的法官、包括日本知識(shí)產(chǎn)權(quán)高等法院所長中野哲弘在內(nèi)的日本法官、 知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官員以及IP律師、專利代理人深入探討了日美兩國的知識(shí)產(chǎn)權(quán)司法事務(wù)及案例。美國專利商標(biāo)局局長David J. Kappos、日本特許廳廳長巖井良行也參加了此次研討會(huì),并作了精彩的演講。此外,也有來自中國、韓國等國家的律師和代理人參會(huì)。研討會(huì)的現(xiàn)場氣氛十分熱烈,與會(huì)者與法官的互動(dòng)機(jī)會(huì)很多,討論非常熱烈。與會(huì)者普遍認(rèn)為此次研討會(huì)規(guī)模很大,舉辦的非常成功,對今后的實(shí)務(wù)操作非常有幫助,并期待有更多類似的研討會(huì)。